11 Juin 2012

Inversion des différences de marche d'un interféromètre à échelettes

Invention disponible sous licence. Ref. CNES B0847. Brevet EP2366986. Procédé innovant de métrologie pour la mesure de différences de chemin optique dans un interféromètre statique.

Synthèse de l'invention

  • Procédé d'inversion des différences de marche (DDM) pour un interféromètre statique basé sur l'acquisition d'une unique image laser.
  • Utilisation des corrélations entre les DDM optiques engendrées par la géométrie des miroirs à échelettes, chaque facette étant formée d'une marche « ligne » et d'une marche « colonne ».

Avantages technologiques

Une technologie performante et innovante

  • Mesures rapides et fiables
  • Technologie à haute résolution : précision de l'ordre du nm
  • Adaptable à tous les domaines spectroscopiques

Une technologie simple et fiable

  • Utilisation d'un laser simple, non accordable
  • Pas de déplacement du miroir nécessaire

Bénéfices commerciaux

Une performance accrue

  • Mesures rapides, avec une précision élevée
  • Utilisable pour tout domaine spectral

Un procédé optimisé

  • Ne nécessite pas de laser accordable
  • Instrument robuste

 

Applications potentielles

Métrologie d'interféromètre à échelettes à échantillonnage optimisé

  • Dispositif embarcable, pour plateforme spatiale ou station automatique