11 Juin 2012
Inversion des différences de marche d'un interféromètre à échelettes
Invention disponible sous licence. Ref. CNES B0847. Brevet EP2366986. Procédé innovant de métrologie pour la mesure de différences de chemin optique dans un interféromètre statique.
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Synthèse de l'invention
- Procédé d'inversion des différences de marche (DDM) pour un interféromètre statique basé sur l'acquisition d'une unique image laser.
- Utilisation des corrélations entre les DDM optiques engendrées par la géométrie des miroirs à échelettes, chaque facette étant formée d'une marche « ligne » et d'une marche « colonne ».
Avantages technologiques
Une technologie performante et innovante
- Mesures rapides et fiables
- Technologie à haute résolution : précision de l'ordre du nm
- Adaptable à tous les domaines spectroscopiques
Une technologie simple et fiable
- Utilisation d'un laser simple, non accordable
- Pas de déplacement du miroir nécessaire
Bénéfices commerciaux
Une performance accrue
- Mesures rapides, avec une précision élevée
- Utilisable pour tout domaine spectral
Un procédé optimisé
- Ne nécessite pas de laser accordable
- Instrument robuste
Applications potentielles
Métrologie d'interféromètre à échelettes à échantillonnage optimisé
- Dispositif embarcable, pour plateforme spatiale ou station automatique