24 Mai 2013

Spectrophotomètre hyperspectral large bande

Invention disponible sous licence. Ref. CNES B1120. Brevet déposé. Dispositif innovant permettant de cartographier spatialement et spectralement l’émission de lumière d’une source faible, du visible à l’infrarouge.

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Synthèse de l'invention

  • Permet de cartographier l’émission de lumière d’une source faible en 2 dimensions sur un continuum spectral allant de 400nm à 1700nm.
  • Nous obtenons donc avec ce dispositif une matrice d’intensités en 2D (X et Y) pour chaque longueur d’onde du domaine spectral couvert.

Applications Potentielles

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Analyser des sources très faibles

  • Cartographier l’émission de lumière des composants optoélectroniques constitués de jonctions multiples superposées (photodiodes, cellules solaires trijonctions, etc…) sur tout le domaine spectral d’émission du composant.
  • Acquérir et localiser dans un champ de vu, le spectre d’émission de fluorescence des matériaux fluorescents organiques (essentiellement macromolécules contenues dans les colles, résines et peintures).

Avantages Technologiques

Solution catoptrique large bande spectrale

  • Pas de chromatisme sur la bande spectrale d’intérêt

Dispersion spectrale à prisme

  • Adapté à la résolution spectrale des applications (5nm au minimum dans le visible)
  • Pas de superposition d’ordres
  • Bon rendement de transmission sur une large bande spectrale
  • Acquisition des spectres sur des détecteurs matriciels basés sur les matériaux silicium pour le visible et InGaAs pour l’infrarouge
  • Résolution en X et Y de
- 25μm pour l’analyse des photodiodes (450-1700nm)
- 50μm pour la fluorescence (290-650nm)
- 200μm pour les cellules solaires (650-1700nm)

Bénéfices Commerciaux

Une solution unique pour analyser les sources faibles sur un large spectre


Un dispositif simple et robuste

  • Éléments simples et classiques
  • Mécaniquement solide et transportable