30 Août 2017
Analyse sans contact à très basse fréquence
Invention disponible sous licence. Ref. CNES B1346. Procédé et dispositif pour l’analyse interne de composants microélectroniques.

Synthèse de l'invention
Les techniques actuelles ne permettent qu’une mesure à plusieurs dizaines de kilohertz au minimum à cause de la bande passante du système optique.
Cette invention permet de faire une mesure en dessous du kilohertz en utilisant une modulation d’amplitude de la source laser.
Cette modulation permet de transposer la mesure électrique « en très basse fréquence » vers une mesure plus haute fréquence optimale pour le système optique.
Avantages technologiques

Analyse très basse fréquence
- Analyse de composants microélectroniques en fonctionnement dynamique.
- Mesure des signaux basses fréquences habituellement
Indétectables par sondage laser.
- Conservation du spectre basses fréquences sansdistorsion.
- Amélioration de la qualité du signal de sortie.
Un système simple et performant
- Adaptable sur les microscopes à balayage laser
Existant sans modifications.
- Possibilité d’optimiser le gain de la photo-détection sur une bande plus étroite.
Bénéfices commerciaux
Capacités reconnues
- Valorisation par le fabricant d’instruments Hamamatsu
Exclusivité
- Seule méthode de mesures basses fréquences sans contact de ce type
Économique
- Compatible avec la plupart du matériel existant.
- Conservation des garanties.
- Gain d’efficacité.
Applications potentielles
Contrôle qualité électronique
- Analyse de défaillance des composants électroniques
- Analyse de design des composants électroniques
Microcontrôleurs, processeurs (ordinateur, GSM, GPS).
Composants vidéo.
Mémoire non volatile, MEMS
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